Recuperação inédita via SEM extrai dados de EDR da EEPROM de um módulo SRS automotivo severamente danificado com o CrashScan
Pesquisadores demonstraram, pela primeira vez, a recuperação completa dos dados do Event Data Recorder (EDR) de um módulo de airbag (SRS) cujo processador e chip de memória Flash EEPROM foram fisicamente destruídos por sobretensão, com temperaturas locais acima de 3000°C. Usando técnicas de preparação de amostra e imageamento por microscopia eletrônica de varredura (SEM), extraíram 100% dos dados sem perda de um único bit, permitindo gerar um relatório EDR completo via CrashScan para reconstrução de acidente.
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